ICチップ部の測定事例です。
測定に使用した非接触三次元測定機はアリコナSLです。
μCMM、アリコナG6、Focus Xでも測定可能です。
異なる材質が混在する部品でも、データ欠落の無い信頼性の高い測定が可能です。また、微少な段差も正確に測定することが可能です。

トルクセンサーの測定事例です。
測定に使用したのはアリコナG5です。
μCMM、アリコナG6、Focus Xでも測定可能です。
センサー部は、形状測定だけではなく、粗さ測定も必要なため、非接触式のアリコナは、センサー部にキズをつけること無く測定できるため、最適のソリューションとなります。また、金属製のセンサー部と透過性のある樹脂製のベース部を同時に測定できることも必要な機能となります。

粗さ測定、形状測定、幾何公差解析、3D-CADデータと比較する差分解析などの測定などが可能です。

サーキットボードの測定事例です。
測定に使用したのはアリコナG5です。
μCMM、アリコナG6、Focus Xでも測定可能です。
アリコナG5 plusは、200mm x 200mmのXY軸ストロークを有しているため、測定範囲の広いサーキットボードも測定精度を落とすこと無く全域の測定が可能です。

基板に実装された各電子部品の高さ測定、サーキットボード全体のうねり測定（平面度としての幾何公差解析）などの測定などが可能です。高倍率対物レンズの測定ではより局所的な部分の高精度測定、例えばボンディング部のミクロンレベルでの高さ測定などにも対応できるため、高い品質を求められる製品の精密測定にご使用いただけます。

USBコネクターの測定事例です。
測定に使用したのはアリコナG5 plusです。
μCMM、アリコナG6、 Focus Xでも測定可能です。
コネクター部は内部にありますが、バーティカル・フォーカス・プロービングで垂直の立壁を測定できるため、アリコナでは測定可能となります。

このデータでの測定可能な項目は、幾何公差解析、3DCADデータと比較する差分解析などの測定などが可能です。
左の写真のように、測定することが可能なため、ピッチやそれぞれのピンの間の距離なども測定することが可能です。
英語になりますが、Focus Xによる測定レポートはこちらからご覧になれます。